掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率顯微鏡，它使用電子束而不是光束來照射樣品，并通過收集從樣品表面反射、散射或發射的電子來生成圖像。以下是掃描電鏡的工作原理的簡要描述：

電子束發射：SEM通過電子槍產生高能電子束。電子槍通常由熱陰極和加速電極組成。熱陰極加熱產生的熱電子被加速電極加速，形成高能電子束。

高真空環境：樣品室被保持在高真空狀態，以避免電子束與氣體分子相互作用。高真空有助于保持電子束的穩定性，并減少電子與空氣分子的相互散射。

樣品照射：高能電子束經過調制和聚焦后，照射到樣品表面。電子束的高能量使得它可以穿透樣品表面的較淺層，與樣品發生相互作用。

信號收集：當電子束與樣品相互作用時，會產生多種信號。常見的信號包括：次級電子（SE）、反射電子（BSE）以及特殊的信號檢測器如能量散射譜儀（EDS）和電子背散射衍射儀（EBSD）。

信號檢測和圖像生成：SEM使用探測器收集和測量由樣品表面發出的不同信號。這些信號被轉化為電信號，并通過信號處理和放大后轉換為圖像。

圖像顯示和分析：通過電子束的掃描和信號的檢測，SEM生成高分辨率的表面圖像。這些圖像可以在顯示屏上進行實時觀察和分析，以獲取樣品的形貌、結構和成分信息。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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