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掃描電子顯微鏡的原理

日期:2023-04-24

掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種利用電子束與樣品相互作用,獲得高分辨率的顯微成像的儀器。其原理可以簡單描述如下:

電子源發射出電子束,經過一系列的透鏡系統進行聚焦,使得電子束成為一個極細的束。

電子束與樣品相互作用,產生各種信號,如二次電子、反射電子、散射電子等。

收集并處理這些信號,形成樣品的圖像。

其中,二次電子是主要的信號,它們是由于電子束與樣品表面原子相互作用而發射出來的。收集和處理二次電子信號可以獲得樣品的表面形貌和微觀結構信息。

掃描電子顯微鏡在成像時,需要對樣品進行導電處理,以保證電子能夠在樣品表面上流動,而不是被樣品表面電荷所阻擋。常見的導電處理方法包括金屬涂層、碳薄膜涂層、真空鍍膜等。

臺式掃描電鏡.jpg

臺式掃描電鏡

總的來說,掃描電子顯微鏡利用電子束與樣品相互作用,通過收集并處理二次電子信號,獲得樣品表面的高分辨率圖像。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電子顯微鏡的原理。更多掃描電鏡價格及信息請咨詢15756003283(微信同號)。

臺式掃描電鏡產品聯系方式


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作者:澤攸科技