如何防止樣品在SEM成像過程中受到污染?
日期:2025-03-13
在掃描電子顯微鏡(SEM)成像過程中,樣品可能會受到污染,導致圖像質量下降或影響分析結果。以下是一些防止污染的有效方法:
1. 預處理樣品,減少污染源
清潔樣品:使用超聲波清洗、去離子水沖洗或等離子清洗去除表面污染物。
干燥樣品:避免水分殘留,可使用烘干或真空干燥。
避免手接觸:用鑷子或手套處理樣品,防止皮脂污染。
2. 控制真空腔內污染
定期清潔 SEM 樣品腔:使用等離子清洗或低能電子束清洗去除沉積污染。
避免使用高揮發性膠水或銀漆:可選擇低污染的導電膠或機械夾持方式固定樣品。
減少樣品倉打開次數:頻繁暴露空氣可能帶入水汽和有機污染物。
3. 使用低束流和低加速電壓
電子束與樣品作用可能引發碳沉積污染,適當降低束流和電壓可減少污染風險。
4. 選擇適當的樣品涂層
絕緣樣品需噴金、碳或鉑,提高導電性并減少電子束誘導污染。
5. 采用低污染 SEM 運行模式
低溫 SEM(冷臺):對生物或揮發性樣品可減少污染和損傷。
環境 SEM(ESEM):適用于含水或易揮發樣品,可減少污染沉積。
6. 維護 SEM 儀器
保持高真空狀態,防止有機分子在樣品上沉積。
定期更換真空泵油,防止油蒸氣污染。
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作者:澤攸科技
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