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如何將樣品桿插入透射電鏡并正確對(duì)齊？

將樣品桿?插入透射電鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）并正確對(duì)齊是一個(gè)需要仔細(xì)操作和一定技術(shù)經(jīng)驗(yàn)的過(guò)程。

在使用過(guò)程中，如果樣品桿出現(xiàn)松動(dòng)，需要立即處理以防止樣品損壞或數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。

在樣品桿上安裝多種類(lèi)型的樣品時(shí)，需要考慮樣品的形狀、尺寸、材料及所使用的分析設(shè)備。

6月26日至28日，華南半導(dǎo)體領(lǐng)域具有影響力和代表性的行業(yè)盛會(huì)SEMI-e 2024第六屆深圳半導(dǎo)體展將在深圳國(guó)際會(huì)展中心（寶安新館）拉開(kāi)序幕。

臺(tái)掃電鏡（SEM）對(duì)樣品的顆粒大小并沒(méi)有嚴(yán)格的要求，但顆粒大小會(huì)影響成像效果和分析結(jié)果。

在使用臺(tái)掃電鏡（SEM）分析樣品時(shí)，工作距離（working distance, WD）對(duì)觀察結(jié)果有顯著影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時(shí)存在一些顯著的區(qū)別。

提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數(shù)是為了觀察樣品的更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)。