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相約廣州丨澤攸科技亮相中國化學會第34屆學術(shù)年會

中國化學會第34屆學術(shù)年會于2024年6月15日至18日在廣東省廣州國際白云會議中心舉行。

在科技創(chuàng)新的浪潮中，澤攸科技以其研發(fā)實力和創(chuàng)新精神，不斷推動著儀器行業(yè)的發(fā)展。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，工作距離（working distance，WD）是指電子束槍到樣品表面的距離。

掃描電鏡（SEM）工作時鏡筒內(nèi)的真空度是確保電子束正常傳輸和樣品表面電子散射檢測的重要因素。

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中分析表面粗糙度是研究材料表面特性的重要方面。表面粗糙度可以影響材料的物理、化學和機械性質(zhì)，因此準確分析表面粗糙度在材料科學、工程和其他領域中非常重要。

掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強度與樣品中原子序數(shù)的平均值有關。

在掃描電鏡（SEM）中，樣品如果沒有進行噴鍍或其他導電處理，可能會出現(xiàn)以下問題：

提高掃描電子顯微鏡（SEM）圖像質(zhì)量可以通過多種方法和優(yōu)化操作來實現(xiàn)。