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掃描電鏡如何獲取圖像？

掃描電鏡（SEM）?通過掃描樣品表面并收集反射的電子信號來獲取圖像。

選擇合適的加速電壓對于掃描電鏡（SEM）?的圖像質量、分辨率、對比度以及分析深度至關重要。

掃描電鏡（SEM）?可以提供多種類型的圖像，涵蓋不同的信息和樣品特征。

掃描電鏡（SEM）?中的樣品通常需要在真空環境中進行處理。這是因為掃描電鏡的工作原理依賴于高能電子束與樣品的相互作用，而高能電子束在空氣中會迅速散射或吸收，無法有效地穿透和與樣品發生作用。

掃描電鏡（SEM）的樣品臺通常可以傾斜，這一功能對于獲得高質量成像效果和分析結果非常重要。

在掃描電鏡（SEM）?中，樣品涂層是常見的樣品制備步驟之一，尤其是對于非導電樣品。

在掃描電鏡（SEM）?中，像差會導致圖像失真、模糊或細節丟失，從而影響成像質量。判斷像差問題的方法包括觀察圖像特征、檢查顯微鏡設置以及分析不同像差類型的特定表現。

掃描電鏡（SEM）?通過斷層成像可以獲得樣品內部的三維結構信息。這種方法通常被稱為聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）斷層成像，或者是通過特定的軟件結合多視角圖像進行重建。

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