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為什么掃描電鏡圖像對(duì)焦困難？如何調(diào)整？

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像對(duì)焦困難的主要原因包括樣品高度不均、電子束參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、充電效應(yīng)、振動(dòng)干擾等。針對(duì)不同情況，可以采取相應(yīng)的調(diào)整方法來改善焦點(diǎn)，提高成像清晰度。

在掃描電子顯微鏡（SEM）下，樣品容易發(fā)生充電效應(yīng)（charging effect），主要原因是：

掃描電鏡（SEM）的電子束斑尺寸（Beam Spot Size）對(duì)成像質(zhì)量有直接影響，主要涉及分辨率、信噪比和成像清晰度。

調(diào)整掃描電鏡（SEM）的電子束電流（Beam Current）可以影響成像的分辨率、信噪比和樣品損傷程度。

提高掃描電鏡（SEM）成像的對(duì)比度有助于增強(qiáng)細(xì)節(jié)和樣品結(jié)構(gòu)的可見性，尤其是在觀察微小或復(fù)雜結(jié)構(gòu)時(shí)。

掃描電鏡（SEM）樣品臺(tái)的傾斜角度對(duì)成像效果有重要影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

在掃描電鏡（SEM）成像中出現(xiàn)條紋或噪聲可能會(huì)影響圖像質(zhì)量，常見的條紋和噪聲類型及其可能原因如下：

掃描電鏡（SEM）的標(biāo)定（Calibration）主要用于確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，包括尺寸測(cè)量、放大倍率、電子束偏轉(zhuǎn)等。