相約北京丨澤攸科技誠邀您參加2025年第二屆原子級制造論壇
2025年3月29日-31日，2025年第二屆原子級制造論壇將在北京市舉辦。
MORE INFO → 公司新聞 2025-03-26
2025年3月29日-31日，2025年第二屆原子級制造論壇將在北京市舉辦。
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在掃描電鏡（SEM）成像中出現條紋或噪聲可能會影響圖像質量，常見的條紋和噪聲類型及其可能原因如下：
MORE INFO → 行業動態 2025-03-26
掃描電鏡（SEM）的標定（Calibration）主要用于確保測量的準確性，包括尺寸測量、放大倍率、電子束偏轉等。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-26
掃描電鏡（SEM）中常見的成像模式有多種，每種模式用于不同的分析目的，下面是一些常見的成像模式：
MORE INFO → 行業動態 2025-03-25
掃描電鏡（SEM）的圖像生成過程涉及電子束與樣品表面相互作用的復雜過程。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-25
是否需要烘干處理取決于樣品的材質、含水量以及掃描電鏡（SEM）模式。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-24
非導電樣品在掃描電鏡（SEM）下成像時，由于電子束轟擊樣品會導致電荷積累，進而產生充電效應，這可能導致圖像畸變、漂移甚至無法成像。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-24
在掃描電鏡（SEM）成像過程中，樣品需要穩定固定在樣品臺上，以避免成像時的漂移、振動或充電效應。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-21